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測厚儀 UM-1 珠海天創儀器有限公司
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簡單介紹:
UM-1測厚儀可以測試鋼鐵,塑料,玻璃,陶瓷等超聲波的良導體的厚度。具有*小值捕捉功能,數據存儲和報警功能。
詳情介紹:
UM-1測厚儀可以測試鋼鐵,塑料,玻璃,陶瓷等超聲波的良導體的厚度。具有*小值捕捉功能,數據存儲和報警功能。
UM-1測厚儀技術參數:
工作原理 :脈衝~回波方式
測量範圍 :0.8~300mm
取決於所用探頭、所測材料、表麵狀況
單位和顯示分辨率
毫米-0.1
英寸-0.01
探頭零點校準
一點校準(用於常規的厚度測量)
兩點校準(測量曲麵壁厚或*應用時,可顯著提高測量
精度)
V路徑修正
自動V聲程修正,補償雙晶探頭的非線性度
示值誤差
±0.1mm  (10mm以下)±0.5% H +0.01 (10mm以上)
注:H為被測物厚度
重複性:±0.1mm
顯示屏
128×64點陣液晶屏(42×57毫米), 具有EL背光,可調節對比度, 厚度值數字高度可達13.75毫米
測量刷新頻率
常規測量時4Hz,*小值掃查時25Hz
材料聲速範圍:1000~9999m/s,0.0394~0.3937in/us
數據存儲
劃分5個數組,可存儲500個厚度值
工作語言
中文、英文
電源
兩節1.5VAA電池,當電池電量不足時,有低電壓提示
操作時間
兩節5號電池,使用時間可達200小時
自動關機
5分鐘無操作後自動關機
工作溫度
-10℃~+50℃,有*要求可達-20℃
尺寸
149mm×73mm×32mm (H×W×D)
重量
含電池200g
選配件
橡膠外套;眾多可供選擇的探頭;校準用階梯試塊;耦合劑及高溫耦合

 
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